Voor schade- en materiaalkundig onderzoek aan diverse componenten, materialen en coatings heeft het NLR een nieuwe Scanning Elektronen Microscoop (SEM) in gebruik genomen.
De SEM faciliteit is een essentieel hulpmiddel bij breukvlak- en schadeonderzoek aan metalen en composieten, het karakteriseren van de microstructuur van metalen, coatings en composieten, chemisch analyse van structuren van kleine deeltjes in microstructuren en/of op breukvlakken en het analyseren van de deformatiegraad van microstructuren en de oriëntatie richting van kristallen.
De nieuwe SEM heeft een zeer hoge operationele inzetbaarheid. Dat is nodig omdat belangrijke klanten eisen dat het NLR snel en op afroep hoogwaardig schadeonderzoek kan uitvoeren, bij voorbeeld om de inzetbaarheid en vliegveiligheid maximaal te ondersteunen.
NLR gebruikt al meer dan 40 jaar elektronenmicroscopen voor dit onderzoek. Deze zijn geschikt om beelden te generen met vergrotingen meer dan 100.000 keer. Ook is diverse analyse apparatuur gekoppeld aan deze SEM’s.
De faciliteit wordt gebruikt voor fractografisch onderzoek voor scheurgroei analyse, microstructuur onderzoek aan anodiseerlagen, coating ontwikkeling en faal mechanismen. Er worden micro-mechanische tests mee uitgevoerd voor het bepalen het scheurmechanisme van koolstof composiet. Daarnaast wordt er het eerder genoemde schadeonderzoek mee gedaan.
De nieuwe SEM (de NovaNanoSEM 450 en het EDAX Trident analyse systeem) geeft gedetailleerder beeld ( tot 1nm resolutie), heeft een geïntegreerd analysesysteem, is robuust, waardoor de availability van het systeem sterk wordt verhoogd en analyseresultaten sneller beschikbaar komen.
De nieuwe Scanning Elektronen Microscoop
